更新日:2012.06.19
本学学生による研究発表が、下記の通り2つの賞を受賞しました。
〔賞のタイトル〕 ?日本信頼性学会2011年度若手奨励賞(平成24年6月11日)
?2011年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞
(平成24年6月16日)
〔受 賞 者〕 作 村 建 紀
大学院 情報工学府 情報科学専攻 博士後期課程2年
〔指導教員〕 廣 瀬 英 雄 教授
大学院 情報工学研究院 システム創成情報工学研究系
〔研究内容〕
機器にストレスを一定時間与え、その時間耐えたら段階的にストレスレベルを上げ、これを機器が
破壊するまで繰り返す「段階的上昇法(SSALTと試験法は同じ)」の破壊確率を表すモデルには
Nelsonの「蓄積疲労モデル」がよく用いられています。しかし、観測データの中には、疲労蓄積は
観測されるが過去の疲労をすべて引き継いでいる訳ではなくある程度は解消されているようなものも
あります。
そこで、ここではこれを含むモデルとして「拡張蓄積疲労モデル」を提案しました。